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測(cè)試可控硅模塊是否好壞的儀器

更新時(shí)間:2015-12-10      瀏覽次數(shù):2457

可控硅種類(lèi)繁多,分為普通可控硅,快速可控硅,雙向可控硅,可控硅模塊;那么問(wèn)題就來(lái)了,種類(lèi)繁多的可控硅要依靠于檢測(cè)什么指標(biāo)才能知道出廠前是否合格,而檢測(cè)指標(biāo)的儀器又分為哪幾種呢?下面,是由北京綠野創(chuàng)能機(jī)電設(shè)備有限公司技術(shù)人員整編出來(lái)的專(zhuān)業(yè)論文,希望對(duì)用戶選型有幫助!

嚴(yán)格意義上講,所有可控硅出廠前必須經(jīng)過(guò)檢測(cè),主要通過(guò)以下三種指標(biāo)完成測(cè)試:

1.觸發(fā)參數(shù),又包含電流參數(shù),電壓參數(shù),維持電流參數(shù);

2.阻斷峰值電壓

3.峰值壓降

三種指標(biāo)對(duì)應(yīng)三種不同的測(cè)試儀,即晶閘管觸發(fā)特性測(cè)試儀,晶閘管阻斷電壓測(cè)試儀,晶閘管通態(tài)峰值電壓測(cè)試儀,這三種我公司常年有貨,價(jià)格也是,歡迎用戶選購(gòu)。

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